Nous utilisons des cookies pour améliorer votre expérience. Pour nous conformer à la nouvelle directive sur la vie privée, nous devons demander votre consentement à l’utilisation de ces cookies. En savoir plus.
Macromodélisation du Transistor MOSFET
Univ Europeenne - EAN : 9783838186894
Édition papier
EAN : 9783838186894
Paru le : 1 déc. 2012
49,00 €
46,45 €
Disponible
Pour connaître votre prix et commander, identifiez-vous
Notre engagement qualité
-
Livraison gratuite
en France sans minimum
de commande -
Manquants maintenus
en commande
automatiquement -
Un interlocuteur
unique pour toutes
vos commandes -
Toutes les licences
numériques du marché
au tarif éditeur -
Assistance téléphonique
personalisée sur le
numérique -
Service client
Du Lundi au vendredi
de 9h à 18h
- EAN13 : 9783838186894
- Réf. fournisseur : 5009502
- Editeur : Univ Europeenne
- Date Parution : 1 déc. 2012
- Disponibilite : Disponible
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 128
- Format : H:220 mm L:150 mm
- Poids : 200gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : Cet ouvrage trait de la macromodélisation du transistor MOS et de l'évaluation des performances d'un composant de puissance VDMOSFET. Plus précisément, en présente tout d'abord l'évolution des structures MOS de puissance basse tension depuis les années 70, jusqu'au transistor VDMOSFET, dont les principale propriétés sont énumérées. On réalise ensuite une étude des mécanismes - analyse statique à l'état passante et à l'état bloquée, analyse dynamique - intervenant dans les diverses zones du composant. Sur la base de cette étude, on établit un modèle de ce transistor pour le logiciel de simulation PSPICE. La seconde partie de cet ouvrage, qui repose principalement sur une démarche expérimentale, permet d'identifier les paramètres du modèle de VDMOSFET puis de valider la modélisation complète du convertisseur BUCK vis-à-vis de mesures. Nous en concluons que la modélisation proposée atteint une précision satisfaisante pour pouvoir être exploitée dans une démarche de conception, ce qui fait l'objet de la dernière partie de cet ouvrage. La simulation est alors utilisée pour étudier l'influence de la température sur le comportement du transistor.
- Biographie : Né le 17 juin 1985 à Batna, Algérie, Messaadi lotfi est titulaire d'un diplôme d'ingénieur d'état, magistère et futur docteur en électronique option micro-électronique, j'ai travaillé dans la recherche, l'optimisation et développement, dans le secteur de la micro-électronique, principalement l'électronique de puissance.
