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Nano-composites en couches minces pour l'électronique flexible
Academiques - EAN : 9783838144405
Édition papier
EAN : 9783838144405
Paru le : 28 juil. 2014
94,90 €
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- EAN13 : 9783838144405
- Réf. fournisseur : 6481759
- Editeur : Academiques
- Date Parution : 28 juil. 2014
- Disponibilite : Manque sans date
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 284
- Format : H:220 mm L:150 mm E:16 mm
- Poids : 420gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : L'endommagement de couches minces déposées sur un substrat polymérique souple a d'importantes conséquences dans le domaine de l'électronique flexible. Afin d'assurer un fonctionnement fiable et optimal de ces systèmes, il est important d'étudier leurs propriétés mécaniques dans les conditions de sollicitations auxquelles sont soumis en service. Cette étude porte sur la déformation bi-axiale contrôlée de nano-composites W/Cu en couches minces déposées sur des substrats polyimides. La nano-structuration est obtenue par stratification de deux matériaux immiscibles (W et Cu) par pulvérisation ionique avec contrôle de la taille des grains par contrôle de l'épaisseur selon la direction de croissance du film. Le comportement mécanique a été caractérisée avec une grande précision à deux échelles différentes: un essai de traction bi-axial est couplé à la diffraction des rayons X (déformation microscopique) et à la corrélation d'images numériques (déformation macroscopique). Ainsi, trois domaines de déformation associés à différents mécanismes de deformation ont été mis en évidence. L'étude de l'effet de ratio de force a révélé un comportement fragile du nano-composite.
- Biographie : Docteur en Physique de l'Université de Poitiers, spécialité Milieux denses et Matériaux. Actuellement en post-doctorat à Max-Planck-Institut fur Eisenforschung à Dusseldorf (Allemagne), sa recherche se focalise sur les mécanismes de déformation des matériaux nanostructurés étudiées principalement par diffraction des rayons X.