Nous utilisons des cookies pour améliorer votre expérience. Pour nous conformer à la nouvelle directive sur la vie privée, nous devons demander votre consentement à l’utilisation de ces cookies. En savoir plus.
Les particules a l''origine des aleas logiques dans les memoires srams
Univ Europeenne - EAN : 9786131566493
Édition papier
EAN : 9786131566493
Paru le : 8 avr. 2011
59,00 €
55,92 €
Disponible
Pour connaître votre prix et commander, identifiez-vous
Notre engagement qualité
-
Livraison gratuite
en France sans minimum
de commande -
Manquants maintenus
en commande
automatiquement -
Un interlocuteur
unique pour toutes
vos commandes -
Toutes les licences
numériques du marché
au tarif éditeur -
Assistance téléphonique
personalisée sur le
numérique -
Service client
Du Lundi au vendredi
de 9h à 18h
- EAN13 : 9786131566493
- Réf. fournisseur : 4710607
- Editeur : Univ Europeenne
- Date Parution : 8 avr. 2011
- Disponibilite : Disponible
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 192
- Format : H:229 mm L:152 mm E:11 mm
- Poids : 290gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : L''environnement naturel est un milieu radiatif. En effet, l''environnement spatial contient des protons (rayonnement cosmique) et l''atmosphère des neutrons. Le passage de ces particules dans les mémoires RAM peut causer des erreurs logiques appelées aléas logiques ou Single Event Upset (SEU). Ces erreurs posent de réels problèmes dans les applications avioniques et spatiales. Les protons et les neutrons sont capables de créer des particules ionisantes au sein même des mémoires RAM. Ces particules perturbent alors le composant par création de paires électron-trou. L''objectif majeur de ce travail consiste à évaluer les abondances de ces différentes particules et de les regrouper dans une base de données. La plage d''énergie concernée s''étend de 100 keV à 2 GeV. L''utilisation de cette base de données ainsi que le critère d''énergie déposée dans un volume sensible nous a permis d''effectuer des calculs d''occurrence d''aléas logiques. Le thème des erreurs multiples est également abordé.