La fiabilité des composants RF de puissance

Univ Europeenne - EAN : 9783841794963

Mohamed Gares

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Édition papier

EAN : 9783841794963

Paru le : 20 mars 2012

79,00 € 74,88 €

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Détails

EAN13 : 9783841794963
Réf. fournisseur : 5232923
Editeur : Univ Europeenne
Date Parution : 20 mars 2012
Disponibilite : Manque sans date
Barème de remise : NS
Nombre de pages : 248
Format : H:220 mm L:150 mm E:14 mm
Poids : 370gr
Interdit de retour : Retour interdit

Résumé

Résumé : Les fortes exigences de fonctionnement ont augmenté la quantité de contraintes appliquées aux transistors qui constituent les modules de puissance dans les radars et ont un impact direct sur leurs temps de vie. Une connaissance approfondie de cet impact est nécessaire pour une meilleure estimation de la fiabilité des modules. C'est pour toutes ces raisons, qu'une étude a été engagée pour élaborer de nouvelles méthodes d'investigations de la fiabilité des composants RF de puissance en conditions de fonctionnement Radar pulsé. Par conséquent, ce travail présente un banc dédié spécifiquement à des tests de vie sur des composants RF de puissance sous des conditions de pulse RF. Un transistor RF LDMOS a été retenu pour nos premiers tests en vieillissement accélérés sous diverses conditions. Des caractérisations électriques ont été effectuées. Ainsi, un examen complet de ces paramètres électriques critiques est exposé et analysé. Toutes les dérives des paramètres électriques après un vieillissement accéléré sont étudiées et discutées. Pour comprendre les phénomènes physiques de dégradation, mis en jeu dans la structure, nous avons fait appel à une simulation physique 2-D (Silvaco).
Biographie : Né le 04/03/1976 en Tunisie, est docteur en physique de l'université de Rouen, France. Il est depuis 2008 enseignant chercheur à l'université de Gabes. Actuellement directeur de l'institut supérieur d'informatique de Médenine. Il s'intéresse dans ses recherches à l'évaluation de la fiabilité des composants électroniques hyperfréquences.