Hétérostructures gan/aln à champ électrique interne réduit

Univ Europeenne - EAN : 9786131577277
FOUNTA-S
Édition papier

EAN : 9786131577277

Paru le : 15 juin 2011

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  • EAN13 : 9786131577277
  • Réf. éditeur : 5494493
  • Editeur : Univ Europeenne
  • Date Parution : 15 juin 2011
  • Disponibilite : Disponible
  • Barème de remise : NS
  • Nombre de pages : 196
  • Format : H:229 mm L:152 mm E:11 mm
  • Poids : 296gr
  • Interdit de retour : Retour interdit
  • Résumé : Ce travail traite de la croissance et des propriétés optiques d''hétérostructures GaN/AlN à champ électrique interne réduit, déposées sur SiC par épitaxie par jets moléculaires assistée par plasma. Nous avons d''abord étudié les propriétés de structures GaN/AlN en phase wurtzite déposées sur SiC (11-20) ou plan a. À l''inverse de l''orientation (0001), la croissance du GaN sur l''AlN en conditions d''excès de Ga permet de former des boîtes quantiques de GaN par le mode Stranski-Krastanow, et la croissance en conditions d''excès d''azote aboutit à la formation de puits quantiques de GaN. Dans les deux cas, la morphologie des couches est influencée à la fois par l''anisotropie de la couche tampon d''AlN sous-jacente et par la polarité du matériau. Des études optiques ont montré une forte réduction du champ électrique interne par rapport à l''orientation (0001). Enfin, nous avons étudié les propriétés des nitrures en phase zinc-blende. Nous avons déterminé les paramètres permettant de contrôler la formation des boîtes quantiques de GaN/AlN, en insistant sur le rôle de la rugosité de l''AlN. Des études optiques ont révélé une polarisation de la photoluminescence des boîtes à température ambiante.
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