Nous utilisons des cookies pour améliorer votre expérience. Pour nous conformer à la nouvelle directive sur la vie privée, nous devons demander votre consentement à l’utilisation de ces cookies. En savoir plus.
Epitaxie de phosphures à grande échelle
Univ Europeenne - EAN : 9786131541148
Édition papier
EAN : 9786131541148
Paru le : 26 oct. 2010
59,00 €
55,92 €
Disponible
Pour connaître votre prix et commander, identifiez-vous
Notre engagement qualité
-
Livraison gratuite
en France sans minimum
de commande -
Manquants maintenus
en commande
automatiquement -
Un interlocuteur
unique pour toutes
vos commandes -
Toutes les licences
numériques du marché
au tarif éditeur -
Assistance téléphonique
personalisée sur le
numérique -
Service client
Du Lundi au vendredi
de 9h à 18h
- EAN13 : 9786131541148
- Réf. fournisseur : 4993867
- Editeur : Univ Europeenne
- Date Parution : 26 oct. 2010
- Disponibilite : Disponible
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 196
- Format : H:229 mm L:152 mm E:11 mm
- Poids : 296gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : La montée en fréquence des composants renforce l''intérêt pour les semi-conducteurs phosphorés. Le développement des cellules à source solide de phosphore avec vanne et craqueur permet d''envisager des perspectives industrielles pour l''Epitaxie par Jets Moléculaires (EJM), face à la concurrence du dépôt chimique en phase vapeur. C''est l''objectif du laboratoire commun P-Taxy entre Riber et l''IEMN, au sein duquel s''est déroulée cette thèse. Plusieurs aspects de l''EJM de composés phosphorés ont été étudiés dans un bâti de grand volume. Les interfaces phosphures sur arséniures ont été caractérisées, mettant en évidence le faible effet mémoire du bâti et des interfaces de bonne qualité pour des arrêts de croissance courts voire nuls. Le fort dopage "p" de l''InGaAs a été réalisé au moyen d''une source de CBr4, avec une faible diffusion des dopants et une jonction p-n proche de l''idéalité. Les flux de cellules d''EJM ont été modélisés par la méthode de Monte Carlo, afin d''identifier les paramètres géométriques permettant d''obtenir une bonne uniformité et une stabilité du flux en intensité.