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Diagnostic decentralise des systemes a evenements discrets
Univ Europeenne - EAN : 9786131524653
Édition papier
EAN : 9786131524653
Paru le : 11 août 2010
69,00 €
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- EAN13 : 9786131524653
- Réf. fournisseur : 4521331
- Editeur : Univ Europeenne
- Date Parution : 11 août 2010
- Disponibilite : Disponible
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 220
- Format : H:229 mm L:152 mm E:13 mm
- Poids : 330gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : Le diagnostic des défaillances des systèmes industriels est défini comme l''opération permettant de détecter et de localiser un défaut. La détection de défauts consiste à rendre une décision sur l''état du système qu''il soit en fonctionnement normal ou défaillant. Cette opération est ensuite suivie d''une étape de localisation du défaut afin d''identifier ses causes et son origine. Ce mémoire de thèse présente une approche décentralisée avec coordinateur pour le diagnostic des Systèmes à Evénements Discrets (SED) et plus particulièrement pour les systèmes manufacturiers. Cette approche considère la Partie Opérative comme un ensemble d''éléments composé d''un actionneur et d''un ensemble de capteurs. La construction des diagnostiqueurs s''appuie sur une modélisation modulaire des éléments de la Partie Opérative, d''un modèle des spécifications de la Partie Commande et d''une information temporelle liée à la réactivité des actionneurs. Chaque diagnostiqueur représente un observateur de l''état du système affecté d''une étiquette de décision, cette décision étant le résultat de l''observation des événements, des conditions sur les états du système et/ou sur le temps de retard entre événements.
