Nous utilisons des cookies pour améliorer votre expérience. Pour nous conformer à la nouvelle directive sur la vie privée, nous devons demander votre consentement à l’utilisation de ces cookies. En savoir plus.
Couches manométriques de fe et feco épitaxiées sur silicium
Univ Europeenne - EAN : 9786131514449
Édition papier
EAN : 9786131514449
Paru le : 27 avr. 2011
59,00 €
55,92 €
Disponible
Pour connaître votre prix et commander, identifiez-vous
Notre engagement qualité
-
Livraison gratuite
en France sans minimum
de commande -
Manquants maintenus
en commande
automatiquement -
Un interlocuteur
unique pour toutes
vos commandes -
Toutes les licences
numériques du marché
au tarif éditeur -
Assistance téléphonique
personalisée sur le
numérique -
Service client
Du Lundi au vendredi
de 9h à 18h
- EAN13 : 9786131514449
- Réf. fournisseur : 4597388
- Editeur : Univ Europeenne
- Date Parution : 27 avr. 2011
- Disponibilite : Disponible
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 176
- Format : H:229 mm L:152 mm E:10 mm
- Poids : 268gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : L''utilisation de siliciures de Fe-Co comme couches tampon ultra minces permettent l''épitaxie de films nanométriques de Fe et d''alliages Fe-Co sur Si. Dans ces systèmes ferromagnétiques, les propriétés d''anisotropie magnétique ont été déterminées par une nouvelle méthode de mesure précise de l''énergie d''anisotropie magnétique planaire (TBIIST) à l''aide d''un magnétomètre à effet Kerr magnéto-optique. Cette méthode intègre une détermination et une correction des signaux magnéto-optique, même très faibles (< 1%), comme les contributions non linéaires en aimantation, polaires d''origine magnéto-cristallin et opto-structurales. La corrélation entre les propriétés d''anisotropie magnétique et magnéto optique et leurs morphologiques mesurées par microscopie STM et leurs propriétés structurales déterminées par spectroscopie X et UV et diffraction (XPD, XRD et LEED) en cours de croissance. Ces corrélations sont discutées et illustrées plus particulièrement sur le système Fe/Si(111) pour lequel la rugosité anisotrope et la morphologie est contrôlées en fonction des paramètres de croissance du Fe. Les résultats sont validées par les calculs faits à partir des images de topographie STM.
