Caractérisation des TBH-SiGe à très hautes fréquences

Univ Europeenne - EAN : 9783841798657

Jad Bazzi

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Édition papier

EAN : 9783841798657

Paru le : 16 juil. 2012

59,00 € 55,92 €

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Détails

EAN13 : 9783841798657
Réf. fournisseur : 5140347
Editeur : Univ Europeenne
Date Parution : 16 juil. 2012
Disponibilite : Disponible
Barème de remise : NS
Nombre de pages : 188
Format : H:220 mm L:150 mm
Poids : 285gr
Interdit de retour : Retour interdit

Résumé

Résumé : Les TBH SiGe sont parmi les composants les plus rapides et sont utilisés pour les applications millimétriques. Des systèmes fonctionnent à 820GHz avec ces composants ont été déjà mis en oeuvre. Afin de concevoir des circuits fonctionnant à ces fréquences très élevées, une analyse détaillée du comportement intrinsèque doit être effectuée. L'objectif principal de cette thèse est la caractérisation de la partie intrinsèque de ces composants. Une bonne précision de mesure dans la gamme de fréquences ondes millimétriques représente un vrai challenge, puisque les grandeurs intrinsèques du dispositif sont beaucoup plus faibles que les données brutes de mesure auxquelles est associée la partie extrinsèque du composant. Afin de corriger la partie extrinsèque, des techniques de de-embedding spécifiques sont mises au point pour obtenir ces caractéristiques intrinsèques réelles. De plus, une technique de calibration directement sur la puce, sans utiliser de calkit, a été élaborée. Ceci permet de s'affranchir des effets de couplage entre la surface du standard de calibrage et les pointes de test hyperfréquences. L'ensemble a été validé par des simulations de type électromagnétique.
Biographie : né à BintJbeil, Liban en 1985. Il a reçu son diplôme de maîtrise dans circuits, système, micro et nano technologie pour la communication haute fréquence et optique de l'Université de Limoges, France en 2008 et le doctorat en électronique de l'Université de Bordeaux 1, Talence, France en 2011.