Assurance Durcissement par la Technique des Débits Commutés

Univ Europeenne - EAN : 9786131565601

Yago GONZALEZ VELO

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Édition papier

EAN : 9786131565601

Paru le : 7 avr. 2011

59,00 € 55,92 €

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Détails

EAN13 : 9786131565601
Réf. fournisseur : 4719226
Editeur : Univ Europeenne
Date Parution : 7 avr. 2011
Disponibilite : Manque sans date
Barème de remise : NS
Nombre de pages : 176
Format : H:220 mm L:150 mm
Poids : 268gr
Interdit de retour : Retour interdit

Résumé

Résumé : Les composants bipolaires se dégradent plus lorsqu'ils sont soumis à un faible débit de dose (vitesse de dépôt de l'énergie lente) que lorsqu'ils sont soumis à un fort débit de dose (vitesse de dépôt de l'énergie rapide). Cela est problématique, car l'environnement spatial dans lequel évoluent les satellites utilisant des composants bipolaires est caractérisé par un faible débit de dose, et donc la dégradation de ces composants est maximale une fois en orbite. De tests sont prévus pour s'assurer de la fiabilité des composants bipolaires utilisés dans les applications spatiales: des tests en laboratoire au niveau du sol réalisés à fort débit de dose permettent de savoir si le composant est sensible à la dose (à la quantité d'énergie déposée) mais ils ne peuvent pas être utilisés pour connaître la tenue en dose des composants bipolaires destinés à un environnement spatial. Pour s'assurer de la fiabilité des composants bipolaires utilisés en environnement spatial il faut les tester à faible débit de dose, ou bien utiliser des tests accélérés permettant de reproduire au mieux les mécanismes se produisant lors d'un dépôt d'énergie lent.
Biographie : Yago Gonzalez Velo est Ingénieur en Électronique (UniversitéMontpellier 2 - UM2, 2004). Après un début de carrière en Espagne en conception électronique, il entreprend une thèse de doctorat au sein du groupe RADIAC del'IES à l'Université Montpellier 2 sur l'effet dedébit de dose observé sur les composants fabriqués en technologiebipolaire