Nous utilisons des cookies pour améliorer votre expérience. Pour nous conformer à la nouvelle directive sur la vie privée, nous devons demander votre consentement à l’utilisation de ces cookies. En savoir plus.
Analyse et caractérisation optique
Academiques - EAN : 9783841640321
Édition papier
EAN : 9783841640321
Paru le : 9 mai 2016
54,90 €
52,04 €
Disponible
Pour connaître votre prix et commander, identifiez-vous
Notre engagement qualité
-
Livraison gratuite
en France sans minimum
de commande -
Manquants maintenus
en commande
automatiquement -
Un interlocuteur
unique pour toutes
vos commandes -
Toutes les licences
numériques du marché
au tarif éditeur -
Assistance téléphonique
personalisée sur le
numérique -
Service client
Du Lundi au vendredi
de 9h à 18h
- EAN13 : 9783841640321
- Réf. fournisseur : 5972194
- Editeur : Academiques
- Date Parution : 9 mai 2016
- Disponibilite : Disponible
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 132
- Format : H:229 mm L:152 mm E:8 mm
- Poids : 205gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : La présent ouvrage a pour objectif l'analyse et la caractérisation des surfaces et interfaces de trois types de matériaux, en l'occurrence le verre optique, l'acier, le silicium et quelques dépôts de couches minces sur substrats. Il s'agit d'utiliser des méthodes de caractérisation optiques et exploiter les propriétés optiques en corrélation avec l'état de surface. Comme la connaissance de l'état de surface d'un élément ou d'un composant optique ou optoélectronique est indispensable pour atteindre la fonctionnalité voulue, les états de surfaces continuent toujours d'être considérés comme un domaine de recherche appliquée très important. Pour atteindre cet objectif on a réservé une partie à l'étude théorique du phénomène et les aspects mathématiques décrivant les paramètres de surface et l'interaction lumière-matière. Quant aux techniques utilisées, on a appliqué les techniques de diffusion de la lumière, l'ellipsométrie, l'interférométrie optique à décalage de phase et la microscopie à contraste interférentiel. Ce spectre de technique est très complémentaire et reflète le caractère expérimental de cet ouvrage.
