Nous utilisons des cookies pour améliorer votre expérience. Pour nous conformer à la nouvelle directive sur la vie privée, nous devons demander votre consentement à l’utilisation de ces cookies. En savoir plus.
Analyse de Silicium par la Technique LIBS
Univ Europeenne - EAN : 9783841613820
Édition papier
EAN : 9783841613820
Paru le : 7 nov. 2016
35,90 €
34,03 €
Disponible
Pour connaître votre prix et commander, identifiez-vous
Notre engagement qualité
-
Livraison gratuite
en France sans minimum
de commande -
Manquants maintenus
en commande
automatiquement -
Un interlocuteur
unique pour toutes
vos commandes -
Toutes les licences
numériques du marché
au tarif éditeur -
Assistance téléphonique
personalisée sur le
numérique -
Service client
Du Lundi au vendredi
de 9h à 18h
- EAN13 : 9783841613820
- Réf. fournisseur : 5400310
- Editeur : Univ Europeenne
- Date Parution : 7 nov. 2016
- Disponibilite : Disponible
- Barème de remise : NS
- Nombre de pages : 60
- Format : H:229 mm L:152 mm E:4 mm
- Poids : 103gr
- Interdit de retour : Retour interdit
- Résumé : La spectroscopie de rupture par laser LIBS est une technique prometteuse pour l'analyse quantitative des matériaux. En effet, elle permet une analyse en temps réel de la composition élémentaire sans contact et sans préparation d'échantillon. Le silicium est le principal composant utilisé dans la fabrication de cellules photovoltaïques solaires, ce qui lui donne la première place dans le domaine des énergies renouvelables. En raison de l'importance technologique et économique de ce matériau, une analyse qualitative complète du silicium par le LIBS est présentée dans ce travail. Les lignées d'émission atomique et ionique sont analysées à l'aide de bases de données spectroscopiques. Le panache d'ablation est également étudié en mesurant la température d'excitation et la densité électronique du plasma en équilibre thermodynamique local.