Analyse des images en métrologie optique par ondelettes

Univ Europeenne - EAN : 9783841788009
BAHICH-M
Édition papier

EAN : 9783841788009

Paru le : 1 avr. 2018

49,90 € 47,30 €
Disponible
Pour connaître votre prix et commander, identifiez-vous
Notre engagement qualité
  • Benefits Livraison gratuite
    en France sans minimum
    de commande
  • Benefits Manquants maintenus
    en commande
    automatiquement
  • Benefits Un interlocuteur
    unique pour toutes
    vos commandes
  • Benefits Toutes les licences
    numériques du marché
    au tarif éditeur
  • Benefits Assistance téléphonique
    personalisée sur le
    numérique
  • Benefits Service client
    Du Lundi au vendredi
    de 9h à 18h
  • EAN13 : 9783841788009
  • Réf. fournisseur : 6176837
  • Editeur : Univ Europeenne
  • Date Parution : 1 avr. 2018
  • Disponibilite : Disponible
  • Barème de remise : NS
  • Nombre de pages : 120
  • Format : H:229 mm L:152 mm E:7 mm
  • Poids : 188gr
  • Interdit de retour : Retour interdit
  • Résumé : Les contraintes industrielles de réalisation de plus en plus sévères nécessitent fréquemment des techniques de mesure et de contrôle. Les méthodes de métrologie optique permettent le contrôle non destructif d'une grande variété de paramètres (déformations, déplacements...), avec une très haute précision. Le calcul de phase est une technique de mesure performante qui permet la reconstruction d'images 3D à partir d'interférogrammes d'intensité. Ce travail s'articule autour de l'extraction de phase à partir d'un seul interférogramme sans porteuse spatiale en utilisant la technique des ondelettes. Nous présentons ici des algorithmes de calcul de phase basés sur le décalage numérique de phase et la superposition numérique de la porteuse spatiale. Le choix s'est porté ensuite sur les transformées en ondelettes continues mono et bidimensionnelle qui donnent accès à la distribution de phase à travers une analyse locale des images d'intensité. Une évaluation, en été faite, a permis de valider et de confirmer la performance des algorithmes proposés. Le principal avantage de ces techniques est de pouvoir offrir une solution de métrologie adaptée au besoin des analyses dynamiques.
Haut de page
Copyright 2026 Cufay. Tous droits réservés.